クロマジャパンは台湾から始まり、幅広い半導体のポートフォーリオを持ち世界中に信頼できるソリューションを提供しております。ATE、PXIシステムから、ICハンドラーやシステムレベルのテストソリューションに至るまで、半導体テストソリューションに関する製品を持っております。こちら展示会動画にてご参考ください。

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SoC試験システム

VLSI試験システム

ピックアップ＆プレースハンドラ

SoC試験システム

SoC/AnalogTestSystem Model3650-S2
SoC/Analog Test System
Model 3650-S2
  • 12 Universal slots for digital, analog and mixed-signal applications
  • Up to 768 digital I/O and analog pins
  • 50 / 100 MHz clock rate
  • 100 / 200 Mbps (MUX) data rate

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Wireless&RFFunctionBoard HDRF2
Wireless & RF Function Board
HDRF2
  • VST*4 ; RF port*32
  • Direct mount
  • 8/16 sites test
  • Wi-Fi、BT、Sub 6GHz、IOT、GPS、LoRa、NB-IoT

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高機能SOCテストシステム Model3680
  • Taiwan Excellence 2022
高機能SOCテストシステム
Model 3680
  • デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
  • 最大1Gbpsのデータレート
  • 最大2048 サイトの並列テスト
  • 最大2048デジタルI/Oピン

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HighDensityAudioVideoOption HDAVO
High Density Audio Video Option
HDAVO

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AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650
  • Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA

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SoC/アナログテストシステム Model3650-EX
SoC/アナログテストシステム
Model 3650-EX
  • ロジック/アナログ測定機能を自由に組み合わせ
  • 各種デバイスに対応できる最適な半導体テストシステム

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VLSI試験システム

VLSITestSystem Model3380P
VLSI Test System
Model 3380P
  • 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
  • Up to 512 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source

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VLSITestSystem Model3380D
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)

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VLSITestSystem Model3380
VLSI Test System
Model 3380
  • 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
  • Up to 1024 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source

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PXIeプログラマブル高電圧デバイス電源モジュール Model33021
  • PXI Systems Alliance
PXIe プログラマブル高電圧デバイス電源モジュール
Model 33021
  • 1モジュールに2チャンネル最大48VDC出力

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PXIeプログラマブルデバイス電源モジュール Model33020
  • PXI Systems Alliance
PXIe プログラマブルデバイス電源モジュール
Model 33020
  • 1モジュールに8チャンネルの高電力密度設計

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PXIeユニバーサルリレードライバコントローラモジュール Model33011
  • PXI Systems Alliance
PXIe ユニバーサルリレードライバコントローラモジュール
Model 33011
  • PXIeベースのユニバーサルリレーコントローラ
  • 32チャンネルダイレクトリレードライバ
  • 2レーンSPIリレーコントロールインターフェース

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PXIeプログラマブル高速デジタルIOカード Model33010
  • PXI Systems Alliance
PXIe プログラマブル高速デジタルIOカード
Model 33010
  • PXIeバス接続
  • 最大周波数：100MHz
  • チャンネル数：32（最大256chまで拡張可能）
  • 3380D/3380P/3380と互換性のあるプログラム

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ピックアップ＆プレースハンドラ

SingleSiteTestHandler Model3210
Single Site Test Handler
Model 3210
  • SLT handler 
  • Ideal for early device design and engineering validation
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40℃ to 150℃ IC test

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HybridSingleSiteTestHandler Model3110
Hybrid Single Site Test Handler
Model 3110
  • FT and SLT compatible handler 
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40 to 150 ℃ IC test (Optional -55 to 150℃ , -70 to 150℃)
  • Auto tray loading/unloading and device sorting capability

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低高温(ATC)ICテストハンドラ Model3110-FT
  • CE Mark
低高温(ATC)ICテストハンドラ
Model 3110-FT
  • 設定可能温度 -40~125℃
  • FT試験及びSLT試験対応
  • 測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm
  • コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション)

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TabletopSingleSiteTestHandler Model3111
  • CE Mark
Tabletop Single Site Test Handler
Model 3111
  • Tabletop design for smaller table space 60 cm2
  • (2) Fixed JEDEC trays
  • IC package size ranges: 5x5mm to 45x45mm
  • Software configurable binning

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RFSolutionIntegratedHandler  Model3240-Q
RF Solution Integrated Handler 
Model 3240-Q
The Chroma 3240-Q is a unique and innovative handler with integration of RF/Wireless isolation chamber.

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DieTestHandler Model3112
Die Test Handler
Model 3112
  • Reliable Pick&Place bare die test handler
  • Multi-plate input and automated test sorting capability
  • Omni-directional adjustable probe stage (X/Y/Z/θ)
  • Stage remain die check function

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Tri-TempOctalSitesHandler 3160-C
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence 2018
Tri-Temp Octal Sites Handler
3160-C
  • Advance thermal technology (Nitro TEC)
  • Faster index time 0.6 sec
  • Active thermal control and full range temperature
  • Chamber less design

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OctalSiteTestHandler Model3180
  • CE Mark
Octal Site Test Handler
Model 3180
  • Up to x8 parallel test sites
  • Up to 9000 UPH
  • Temperature test from ambient ~150℃

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AutomaticSystemFunctionTester Model3240
Automatic System Function Tester
Model 3240
  • Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level.
  • Test up to 4 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from 50°C to 125°C.

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AutomaticSystemFunctionTester Model3260
Automatic System Function Tester
Model 3260
  • Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level.
  • Test up to 6 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from -40°C to 125°C.

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MiniatureICHandler  Model3270
Miniature IC Handler 
Model 3270
Innovative handler for high volume/multisite miniature IC testing, especially for CIS Testing (CMOS Image Sensor), at system level.

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TemperatureForcingSystem Model31000RSeries
Temperature Forcing System
Model 31000R Series
  • -70°C to 150°C temperature range
  • Cost competitive
  • Compact footprint
  • Semi-automation
  • Liquid-free Operation

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