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Email Chroma: info@chroma.co.jp
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Chroma offers precision instruments such as laser drivers, photodetector monitoring, and temperature controllers. These lab class instruments are often integrated into production solutions for wafer probe test, burn-in and device or module characterization then reinforced with inspection, metrology, robotics, Industry 4.0 and more.
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ウェーハレベル試験システム
短パルス駆動 フォトニクスデバイスウェハプ ロービングテストシステム
Model 58636 Series
- ナノ秒スケールでのパルス駆動と測定を実現
- VoS（VCSEL on Silicon）やVoD（VCSEL on Driver）などの異種統合デバイスに対してデジタル制御をサポート
- 特許取得済みの2-in-1光学ヘッド設計により、一度のプロービングでLIV（光・電流・電圧）、波長、およびNFPを測定
- Multi-siteおよびMulti-dieテストに対応し、テスト効率を向上
Photonics Wafer Probing Test System
Model 58635 Series
- Up to 6" wafer
- Support both QCW and CW operation
- LIV test, Near Field test, Far Field test, LIV-λ & NF two-in-one test
ウェーハチップ両面検査システム
Model 7940
- 両面同時カラー検査
- 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ)
- 自動ウェーハアライメント機能
- ウェーハ形状/エッジ認識機能
- 欠陥検出率99％以上
パッケージレベル試験システム
High Density Laser Diode Burn-in & Reliability Test System
Model 58604-HD
- Burn-In, reliability, and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel driving and measurement
- Proprietary spike-free SMU design
- Up to 500mA single-channel current driving
- Precise temperature control up to 125ºC
Photonics Module Test System
Model 58625
- All-in-one test system
- Flexible test station arrangement
- Precise temperature control -20~85℃
- Large beam angle measurement
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
- Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
- Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
- Modular design for easy customization and maintenance
- Comprehensive ESD protection
- Independent channels for source and measurement
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム
Model 58604
- バーンイン、信頼性及び寿命試験に適用可能
- ACC及びAPC制御モード
- 個々のチャネルの駆動と測定
- チャンネルあたり500mA電流を駆動
- 125℃までの正確な温度制御
- 個々のモジュール動作
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
- Burn-in, reliability and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel for source and measurement
- Spike-Free sourcing
- Up to 6000 mA per channel and pulsing
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
- Burn-in, reliability and life test
- Dark Current and Breakdown Voltage
- 256 channels Bi-polar device source per drawer
- High bias source to 80 volts
レーザーダイオード特性評価システム
Model 58620
- 端面発光レーザーダイオードのフルターンキーテストシステム
- 他のレーザーダイオード試験器と互換性を持つ大容量キャリア
- ファイバ結合試験用のオートアライメント機能搭載
TO-CAN/CoC Burn inテストシステム
Model 58603
- Burn inテスト、信頼性テスト、ライフテストを提供
- 各システムは最大10個のモジュールテストを提供
- 自動電流制御モード(ACC)と自動電力制御モード(APC)に対応
モジュールおよびアクセサリ
PXIe デバイス電源モジュール
Model 52310e Series
- 独立4チャンネル
- 出力：±7V/1Aパルス（最大）
- 20ビット測定分解能
- 低ノイズ出力
- サンプリングレート最大600ks/S
多機能温度データロガー
Model 51101 Series
- チャンネル間絶縁耐圧：1000VDC
- 2種類のモデル (64/8ch)
- B, E, J, K, N, R, S, Tタイプ対応
電気温度制御（TEC）コントローラ
Model 54100 Series
- 温度設定範囲：-70℃～250℃
- 分解能0.01℃、測定確度|0.3℃|
- 1時間温度安定性：±0.01℃
- 兆時間温度安定性（PIDコントロール有）：±0.05℃
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