クロマジャパン株式会社 Chroma ATE Inc.

SoCテストシステム
Model 3650-EXModel 3650Model 3650-CX
Key Features Key Features Key Features
  • 50/100MHz クロックレート
  • I/O 最大1024ピン
  • パターンメモリ 32/64M
  • DPS 最大96CH
  • SCAN/ALPG
  • パラレルテスト 512DUT
  • Microsoft Windows® 7 /XP OS
  • 50/100MHz クロックレート
  • I/O 最大640ピン
  • パターンメモリ 16/32M
  • DPS 最大32CH
  • SCAN/ALPG
  • パラレルテスト 32DUT
  • Microsoft Windows® 7 /XP OS
  • 50/100MHz クロックレート
  • I/O 最大256ピン
  • パターンメモリ 16/32M
  • DPS 最大16CH
  • SCAN/ALPG
  • パラレルテスト 32DUT
  • Microsoft Windows® 7 /XP OS

 

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