現在のロジックICは、多様な機能を複合しています。そのため、複雑なシステムオンチップ (SoC) は論
理、シュミレーション、電源及び内蔵記憶機能を搭載すると共に、テスト装置に対する挑戦にもなってい
ます。

ここ数年、シリコンウェハーのコストが下がってきており、それにともない、テストコストの低減も焦点
となっています。VLSI テストシステムは、精確にICの電気信号をシュミレーションすることができ、且
つ高速にテスト結果の分析ができます。テストヘッドは、スループット向上のため、マルチサイト向けの
マルチテストプログラムが実行できます。その上に、カスタマイズされたテスト装置は、特定の要求に応
じることができ、一般テスタに取って代わることができ、テストコストの低減を確実に実現します。

ICプロセスの最終工程において、分類装置は違う種類のパッケージ製品を分類することができます。パ
ッケージテスティング完了後、ICテスタでシュミレーションする代わりに、実動作環境でICテストを行
う自動システム機能テスターは、広い範囲で複雑なICテストの実施、及び低コストと高品質を実現しま
す。