デバイスコストが下がると共に利益マージンが少なくなる時代に、テストコスト低減、利益向上、及びデバイスの品質維持のための良いテスト手法を見つけ出すことは、大事なことになっています。3650は高スループット、多数個取り機能のSoCテスタであり、ファブレス、IDM (総合半導体メーカ) 及びテストハウスを含む顧客の、最も省コストの手段を提供します。また、高性能マイクロコントローラ、コンシューマSoC、パソコンの周辺IC 等の、デバイスの全ての機能テストに対し、高精度、優れた信頼性、強力なシステムツールを持っています。
高性能、低コストの生産システム テスタシステムのコストを低減すると共に、より高速で、より多くのデバイスをテストする多数個同時測定機能で、 3650はテストコストの低減を実現しています。高度な校正システムにより、3650は±550ps以内の優れた総合タイミング精度を持っています。パターンジェネレーターは最大32Mのパターン命令メモリを有しており、パターンメモリと同じ容量を持ち、パターンステップ毎に命令を実行することができます。しかも、複雑なテストパターンに応じるよう、数種類のパターンコマンドを用意しています。テストパーピン構造と自由なサイトマッピングは、高スループットのマルチサイトテストのために設計されたものです。最大512のデジタルピン、32 のデバイス電源、パーピンPMU及びアナログテスト機能などで、省コストテストを実現し、高機能、高スループットを提供します。
多数個同時測定機能 強力な多数個同時測定機能をもつピンエレトロニクスは、複数のピンにおいて、同一のパラメトリックテストを同時に行うことができます。64のデジタルピンを一枚のボードに搭載し、各ボードに、大規模な LSI を搭載しています。この LSI は50PSの精度の6チャンネルのタイミングジェネレーターを持っています。コントロール回路は、リソースの設定及び結果の読出しを管理し、システムコントローラのオーバーヘッド時間を削減します。任意のピンから任意のサイトマッピングへの設計で、最大32サイトの高スループットの同時測定機能を有しており、より自由に簡単な配置で、大量生産を実現できます。
フレキシビリティ 半導体産業の進歩は速く、主要設備は複数プロセスの生産に対応できるように、造られなければなりません。AD/DAコンバータテスト機能、メモリテスト用のALPG、高電圧ピンエレ及びマルチスキャンチェーンテスト機能をオプションで選択でき、寿命の長いテスタを提供します。しかも、プラットフォームは、特定のアプリケーション機能を、簡単に追加ができます。各種のデバイスのテストをカバーすることにより、テストの境界を広げ、今までにない低コスト生産のテストシステムを実現します。
強力なソフトウエアツール−CRISP 3650はChroma統合のソフトウエアプラットフォーム、CRISPという強力なソフトウエアツールを搭載しています。CRISPは、テスト開発機能だけでなく、テストデバッギング、生産、データ分析に関するあらゆるニーズを支援します。CRISPはテスト開発、テスト実行制御、データ分析及びテスタ管理などのソフトウエア機能を統合しています。Microsoft Windows XP®オペレーションシステム、及びC++プログラミング言語に基づき、CRISPはユーザのために、強力、使いやすい、直感的、快適に操作できるGUIツールを提供しています。プロジェクトIDEツールにおいては、テスト開発者は、スピーディに自分のテストプログラムが作成できるように、標準テンプレート、ユーザ定義のテンプレート、及びC++コードを基本とする編集を、簡単に変換することができ、そして、同時測定のためのマルチサイトを自動に展開します。また、CRISPは、他社のプラットフォームからChroma 3650への変換を簡単にするように、テストプログラムとテストパターンの変換を提供します。
テストプログラム実行コントローラについては、ユーザは通常モードやデバッギングモードで、システム制御ツールやプランデバッガツールを、選択することができます。プランデバッガツールにおいては、ブレイクポイント、ステップ、ステップイントゥー、ステップオーバー、変数監視及び変数修正の実行再開などを設定することにより、ユーザはテストプログラムの実行を制御することができます。テストデバッギングとデータ分析を目的とし、3650は大量のソフトウエア実用ツールを提供します。データログ、ウェーブフォーム及びスコープツールは、測定データとデジタルウェーブフォームディスプレイを、支援するように設計されています。パラメトリックマージンを見出す、シュムとピンマージンツールは、自動モードや手動モードの実行で、デバッグを容易に行うことができます。その上、ウェーハマップ、テストサマリ、ヒストグラム及びSTDFツールはテスト結果の収集とパラメトリック特徴の分析に大変役立ちます。テスト状態モニターとパターン編集ツールについては、テストをブレイクしたり、ソースファイルを修正したりせずに、テスト状態やパターンデータの変更のために、優れた実行時デバッギング機能を提供します。そして、CRISPもまた、アナログとALPGオプションのための、ADDAツールとビットマップツールを用意しています。ADDAツールの使用により、ユーザはグラフィックツールでAD/DAテスト結果を見るのみならず、ADCパターンの作成も簡単にできます。強力なGUIツールは、テストデバッギングとテスト報告のいろんな目的に活用できます。
CRISPのOCIツールはマスプロダクションをサポートします。簡単且つ正確な作業は生産時において、最も大事な要求であり、プログラマーは事前に生産環境条件に対処するよう、プロダクションセットアップツールを利用し、OCIツールの設定をカスタマイズすることができます。それで、作業者の仕事は計画されたプロセスを選択するだけで、マスプロダクションを開始することができます。
周辺機器 3650はGPIBとTTLインターフェースで、ハンドラー及びプローバーとの通信を実現します。ハンドラー及びプローバーは、SEIKOEPSON 、SHIBASOKU、MULTI-TEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II 等と運用しています。
テストプラットフォーム変換のコンバーターツール以外に、他社のアダプタボードの適用も実現しており、顧客のコストを節約することができます。アダプタボードの利用により、他社の DIBとプローブカードを共有することができ、ロードボードとプローブカードを新たに製作するコストの節約にもつながります。
小型設置面積 テストヘッド内の空冷、小型フットプリント、高集積パッケージ設計により、高スループットで最小の設置面積を実現しました。メインフレームは、電源の分配機構とオプション機能の空間を有しています。オプションのマニピュレータと自動電圧補正機構で、 3650はパッケージングテストとウェーハテストに利用することができます。
アプリケーションサポート Chromaは顧客のニーズに対応するため、アプリケーションサポートを提供します。リクエストに応じてChromaは、カスタマイズされた特定ニーズに合わせた支援を提供します。生産量を増加したい、新規市場の開拓をしたい、生産性を向上させたい、革新戦略でテストコストを低減したい、何れの時でも、Chromaのグローバルなカスタマーサポートスタッフは、タイムリーで効率的な解決を生み出すことを約束します。