Model 3650-CX SoCテストシステム


特長
  • 50/100/200MHz(MUX)テスト速度
  • 16 ピン高電圧 I/O
  • 256ピン I/O
  • DPS並列測定機能
  • 16/32MWパターンメモリ容量
  • Microsoft Windows XP OS
  • 16/32MWインストラクションメモリ容量
  • C++及びGUIプログラミングインターフェイス
  • 16サイトマルチ測定
  • CRISP豊富で使いやすいソフトウェアツール
  • 16チャンネルデバイス電源(DPS)
  • 各種測定器の搭載が容易
  • 8チャンネルDC測定(PMU)
  • 超小型化による最小設置面積
  • 2Gビット/4チャンネルスキャンメモリ容量
  • ALPGメモリ測定機能
SoCテストシステム




Chroma3650-CX は、テストコストの低減及び効率の良いテストを提案します。 3650-CX は、全ての機能を一体化し、コスト低減、高精度、高スループットを実現した超小型テストシステムです。

また、使い勝手が良く、豊富なソフトウェアツールを持っており、MCU、NANDフラッシュメモリコントローラ、PC周辺デバイス、スイッチデバイス、LEDドライバIC、パワーIC、SoCデバイス等のテストができます。

CRISP : 3650-CX の強力なシステムソフトウェア 3650-CX のCRISPは、豊富なソフトウェアツールを統合したソフトウェアプラットフォームです。 CRISP は、テスト開発だけでなく、デバッグ、生産、データ解析等の全てのテストニーズに応えます。Microsoft Windows XPをベースにしたシステム及びC++によるプログラム言語のCRISPは、豊富で使い易く、快適動作の GUI ツールを提供します。 CRISP は、テストプランデバッガ、パターンエディタ、波形表示ツール、実波形表示ツール、ピンマージン、シュム、ウェハーマップ、ヒストグラム、データログ、STDF(Standard Test Data Format)ツール等の機能を持っています。

全ての機能を一体化した超小型化による最小設置面積を実現空冷方式、テスタとテストヘッドの一体化及び高密度基板の採用により、3650-CXは最少の設置面積を実現します。

また、3650-CXは、オプションのマニュピュレータにより、パッケージデバイス及びウェハーデバイスの両方に対応できます。

周辺装置
3650-CXは、ハンドラ及びプローバとのインターフェイスとして、GPIB及びTTLインターフェイスを持ち、複数デバイスの通信も対応します。また、SEIKOEPSON 、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II、その他多数のハンドラ及びプローバに対応しています。


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3650-CX SoCテストシステム
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